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基于CCD相机的BeamView光束质量分析系统
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- 适合测量脉冲或连续激光
- 提供全面的、高精度的2D、3D空间信息
- 功能强大亦便于使用的分析软件
BeamView 系统提供如下光束分析功能：峰值/质点位置、光束椭圆度及主次轴角度、圆度、标准偏差直径(D4δ)、高斯拟合、均匀度、光阑设定和比值、以及通过设定参数和偏差范围实现在线筛选功能等等。
BeamView™ 光束质量分析系统无论从软件、硬件还是所使用的光学元件等各个方面都被认为是业界的领先的光束质量分析系统。相干公司秉承不断创新的理念，聆听和尊重用户意见，不断改进,
BeamView 光束质量分析系统已经成为实验室、工业现场应用的首选激光参数测量装置。
BeamView™系统中，有三种触发图象获取方式和5种图象获取模式，这三种触发方式和5种图象获取模式的配合使得BeamView
系统可以分析任意时间特性的激光，从连续到脉冲（最高脉冲响应频率可达10kHz）：
- 在Auto 模式下，用户可预先设定入射强度阈值，当入射光束的强度高过这个阈值，就自动触发系统捕获图象
- 在Synchronous 模式下，由图象采集卡发出TTL 信号同步图象采集和激光发出脉冲
- 在Asynchronous 模式下，采集卡由用户提供的TTL信号触发图象捕获
- 5种图象获取模式：连续获取、固定时间间隔获取、脉冲同步获取、手动获取、单次获取等
BeamView 系统中所使用的图象采集卡与RS-170 或 CCIR 制式的相机兼容，可以同时带4个相机，而后通过软件控制/选择任意一个相机在任意时刻工作。
BeamView系统中所采用的CCD 相机有传统的模拟相机，也有新发展的数字相机。大多数的应用采用数字相机和分析系统都最方便，同时，数字BeamView™
分析系统相比起传统的模拟系统，光学动态范围更宽，测量更精确，测量结果一致性更好，但是在激光光束直径比较大（比如半导体激光器）、或者波长大于1100nm的应用中，目前只有部分的模拟相机才能够满足应用要求。 |
 模拟BeamView分析系统和相机
数字BeamView分析系统
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产品编号 |
描述 |
| 33-7014-000 |
1/4" LaserCam IIID 数字相机和BeamView分析系统 |
| 包括1/4" LaserCam IIID数字相机、接口卡、软件、电缆及操作手册等，全套装置 |
| 33-7022-000 |
1/2" LaserCam IIID数字相机和BeamView分析系统 |
| 包括1/2" LaserCam
IIID数字相机、接口卡、软件、电缆及操作手册等，全套装置 |
| 33-2700-000 |
Analog BeamView Analyzer |
| 包括分析软件、PCI 采集卡及接口卡，需另选配模拟相机 |
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* 以上价格属于美国生产工厂出厂价格，不包括运输费用、进口程序所涉及的各项费用等。请就近联络相干公司北京/上海代表处，了解购买详情。
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